更新時間：2023-08-18
IR系列光學傳遞函數測試儀應用于可見光、紅外、（單）雙無限（無焦）、有限系統的測量和評價。除光學傳遞函數外，它還可以提供焦距、單項像差、視場等參數的測量。傳函測試儀目前被廣泛應用于光學鏡頭、像增強器、CCD攝像機、紅外成像系統等其它成像系統的像質評價和相關參數測量，可以將測量結果以數據的方式顯示和記錄，更便于進行處理和對比。
IR系列光學傳遞函數測試儀
介紹
1）功能
測試光學系統、鏡頭、器件的調制傳遞函數MTF、相位傳遞函數PTF、焦距EFL、截距FFL、*佳焦面、畸變、場曲、色差、像散、相對透過率等。
2）MTF測試范圍
UVB | Ultra-Violet B | 193 - 360 nm |
NUV | Near Ultra-Violet | 325 - 500 nm |
VIS | Visible | 400 - 700 nm |
NIR | Near Infra-Red | 700 - 1000 nm |
SWIR | Short-Wave Infra-Red | 1 - 3 um |
MWIR | Medium-Wave Infra-Red | 3 - 5 um |
LWIR | Long-Wave Infra-Red | 8 - 12 um |
3）技術規格
光譜范圍 | 350nm-1000nm，1-3um，3-5um，8-12um |
大離軸角度 | ±90° |
焦距范圍 | 3-1000mm |
可測物鏡口徑 | 5-200mm |
空間頻率范圍 | 0-1600lp/nm（350nm-1000nm）；0-100 lp/nm（1-3um）； 0-60 lp/nm（3-5um，8-12um） |
MTF測量精度 | ±5’ |
MTF測量重復性 | ±0.01 |
焦距測量精度 | 優于±0.5% |
畸變測量精度 | 優于±0.5% |
場曲測量精度： | 優于±5um |
色散測量精度 | 優于±0.002dpt |
測查測量精 | 優于±5um |
IR系列光學傳遞函數測試儀
統組成
反射式準直鏡，光束折疊鏡、擺臂，紅外探測器（1-3umPbS，3-5um8-12umMCT），紅外光源，紅外濾光片，紅外目標（狹縫），像分析器調焦、視場、垂直移動平臺，信號斬波器，信號處理器，平臺控制器，計算機及軟件。
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