更新時間：2023-08-18
激光光電探測系統線性性能檢測裝置于透射式和折反式導引頭探測器彌散圓調試與導引頭光電線性區測試。
激光光電探測系統線性性能檢測
激光光電探測系統線性性能檢測裝置于透射式和折反式導引頭探測器彌散圓調試與導引頭光電線性區測試。
檢測紅外器件光敏面大小、均勻性、多元器件的*性及串音情況。這對于提高紅外系統特別是以探測器為視場光闌的系統搜索和跟蹤精度,提高成像系統的清晰度都具有重要意義。紅外小光點系統首先要檢測光斑彌散圓大小,才能投入使用。迄今為止,幾乎所有的紅外光學系統的裝校和檢測都是在可見光譜區進行。這就要求光學系統只能設計成反射系統。隨著紅外儀器發展,紅外透鏡已經被采用;在反射系統中常常要加紅外波段濾光片;中紅外以上的探測器往往都帶有透紅外而不透可見光的窗口。帶有這些光學零件的紅外系統,裝調和檢測不能在可見光譜區進行。
激光光電探測系統線性性能檢測技術規格
適用波長 | 1.06um |
調節方式 | 方位、俯仰和滾轉調節 |
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